馬波斯WRSP60掃描式測頭，

      通(tong)過對新部件(jian)的(de)輪廓和(he)表(biao)面進行(xing)(xing)接觸式掃描，直接在機(ji)加環境中進行(xing)(xing)精確、完整的(de)質量(liang)控制。

　　由于WRSP60是無線電傳輸類(lei)型測頭，它適用于任(ren)何(he)類(lei)型的芯片分離式機床。WRSP60測頭與標準的接(jie)觸式測頭不同，它可(ke)進行質量控制、零件錯位(wei)矯(jiao)正(zheng)和表面(mian)變形檢(jian)查、修正(zheng)切割程序(xu)，可(ke)對比檢(jian)查運行和部件定(ding)位(wei)。

　　系統運用(yong)集(ji)成接口給WRI接收(shou)器傳輸數(shu)據， 數(shu)據通(tong)過馬波斯先進的軟件(jian)包進行(xing)收(shou)集(ji)、分析(xi) 和展示(shi)。

　馬波斯第(di)一個高(gao)精度(du)接(jie)觸式測頭被(bei)設計用 于磨(mo)具和磨(mo)床(chuang)。由于其創新的(de)壓電技術(shu)，在3D 幾何表面上也具備高性能。 　　

  這(zhe)一創新的(de)系統意味著它在每個觸發方向 都(dou)能(neng)夠具有無預(yu)行程和較小的觸發(fa)力，且在所 有方向重度(du)精度(du)小于(yu)1微米(mi)。 　　

  由于其緊湊(cou)的幾何形狀，它也適合(he)用于非 常(chang)小的生產空間。